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IR-2發(fā)射率測試儀-可測高溫

日期:2024-12-23 01:27
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摘要: IR-2發(fā)射率測試儀,600度高溫陶瓷材料測量儀器工作原理和特點: 1.本儀器的設(shè)計采用反射率法的測試原理,即通過采用主動黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率, 2.設(shè)計了專用小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源,并采用六位高精度黑體控溫儀(能顯示到1mk),極大地提高了儀器在測量時的可靠性和穩(wěn)定性。 3.在測量光路設(shè)計中,采用了獨特的光學(xué)調(diào)制技術(shù),使測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。 4.考慮到樣品漫反射引起的測量誤差,在儀器設(shè)計中,除鏡反射(MR)探測通道外,還增設(shè)了專門的漫反射(DR)補償通道,從而...

IR-2發(fā)射率測試儀,600度高溫陶瓷材料測量儀器工作原理和特點:

1.本儀器的設(shè)計采用反射率法的測試原理,即通過采用主動黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率,

2.設(shè)計了專用小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源,并采用六位高精度黑體控溫儀(能顯示到1mk),極大地提高了儀器在測量時的可靠性和穩(wěn)定性。

3.在測量光路設(shè)計中,采用了獨特的光學(xué)調(diào)制技術(shù),使測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。

4.考慮到樣品漫反射引起的測量誤差,在儀器設(shè)計中,除鏡反射(MR)探測通道外,還增設(shè)了專門的漫反射(DR)補償通道,從而確保了儀器的測量精度。

5.在信號及電子學(xué)處理技術(shù)上采用鎖相技術(shù)和微電子技術(shù),較好地實現(xiàn)了對微弱信號的探測,進一步提高了儀器性能。

6.用二塊發(fā)射率已知的參考樣板(一塊為鍍鋁低發(fā)射率參考板,一塊為銅中發(fā)射率參考板)在常溫下對儀器進行校正,并用高發(fā)射率的水進行復(fù)核(因為水在可見光透明,在紅外波段的發(fā)射率高達0.97) 從而確保了儀器的測量精度。

7.本儀器帶RS-232串口,每按一次測量鍵E,就發(fā)送一次數(shù)據(jù),起始位標(biāo)志AA。

 

IR-2發(fā)射率測試儀,600度高溫陶瓷材料測量儀器主要技術(shù)指標(biāo)

1.測量波段:1~22μm  3~5μm  8~14μm

(若用戶有特殊要求,可定制不同波段濾光片)

2.發(fā)射率測量范圍:0.1~0.99

3.靈敏度:0.001

4.示值誤差:±0.02

5.重復(fù)性:±0.01

6.樣品溫度:常溫(常溫~600℃)

7.樣品尺寸:Ф≤35 mm

8.測量時間:3秒后按輕觸開關(guān)E,即顯示測量值

9.顯示方法:LED數(shù)字顯示,末位0.001

10.電源:交流220V  50HZ 

 

粵公網(wǎng)安備 44031102000140號